使用过采样提高STM32F101xx和STM32F103xx的ADC分辨率

2009年11月26日 17:11    诸葛孔明
关键词: ADC , 采样 , 分辨率
中等容量和大容量的STM32F101xx和STM32F103xx基于Cortex™-M3的微控制器拥有采样频率为1M/s和12位分辨率的多个ADC模块,这样的分辨率可以满足多数应用的需要,但在某些要求高精度的应用场合,对输入信好使用过采样的技术,可以节省外部器件的使用,减低功耗和成本。

文中给出了2种提高ADC分辨率的方法,它们都是基于同样的原理:以最大1MHz的速率对输入信号进行多次采样,在通过取平均的方式提高分辨率。

文中讨论的方法和固件适用于所有中等容量和大容量的STM32F10xxx产品。在本文的后面还介绍了一些特殊的技巧,这些技巧是专门针对中等容量和大容量的STM32F103xx,和大容量STM32F101xx的特点。

应用笔记分为2个部分,第1部分介绍了如何使用过采样提高ADC的分辨率,第2部分是不同方法的实现指南,并且给出了在STM32F101xx和STM32F103xx产品上实现这些方法的流程图。

使用过采样提高STM32F101xx和STM32F103xx的ADC分辨率.pdf

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用过采样提高STM32F101xx和STM32F103xx的ADC分辨率(程序包).zip

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6665355 发表于 2010-8-27 19:45:27
了解一下
misshyx 发表于 2012-3-21 10:23:57
KANKAN
秒宿 发表于 2015-10-26 01:36:01
謝謝分享
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