黑片无罪,人之罪!-- 听左强讲山寨那些事儿

发布时间:2011-3-11 11:08    发布者:绝对好文
关键词: 山寨 , 左强
作者:左强

看到有人在《SD卡-最黑片》(http://forum.eet-cn.com/BLOG_ARTICLE_6723.HTM)中问黑片的稳定性问题,那一定是没有去看《不了解黑片,就不要说你懂U盘》(http://forum.eet-cn.com/BLOG_ARTICLE_6536.HTM)。

不过想了想,还是针对这个问题,专门插播汇总一下吧。

在汇总之前,真的要插播一下:

因为,有朋友看了U盘全部文章后,和他上司推荐,结果他上司看了,说这个人是他同学,世界和圈子就是这么小,结果自然能找到我。当我了解到,他们正在做这样的芯片,而作为设计工程师,他抱怨公司marketing从来没有这样的信息输入,导致他们根本不知道如何设计,希望能够和我了解。最后我还是希望各司其职,有些事情,当xx不急,xx急的时候,就会开始不满、牢*,最后总会发生一些变化。关于这,我感触太深!不扯远。

我寒已久的心又寒一记,这就是本土的IC设计。不懂敢上,上了又不去第一线了解。2年一颗又2年,钱烧呀烧呀,感情都不是自己的,不心疼。但请问大家,各位有多少个2年。我亲自蹲了5年了解到的,试问有多少本土markting这样去做了,都以为去深圳逛了两圈,饭桌上砍几句,搞定几个代理商,出了点货,就真的了解本土市场了!尤其是海龟,烧VC的钱不眨眼,干烧上不了市,本土的到真的上了好几个,结果最后一口气用在了上市上,接下来的样子大家都看到了。
****以上一段,必定招来一堆人攻击,哎,憋太久了,说了痛快!难道一个公司就图一颗IC定乾坤,还是闭门造出来的,3年上司,5年风光么?去看看本土上市的IC设计公司,现在都啥德行!当初的锐气,霸气,优秀的团队,优秀的产品都哪去了?*******
   
牢*停止,感觉有点泼,见谅!言归正传!

关于黑片具体的质量情况,本人貌似可以临时堪称专家,这里汇总如下:

1.  披着黑片的伪黑片:

为了暴利,因为如果宣布一批wafer报废,意味着这批wafer成本将为0,或者极低。这个内部上线串通好,不要太时常的一定规模下搞搞是查不出来的,这样的“黑片”中的好片,其实是和标准品没有区别的,芯片出来不打logo,或者说也可以自己打logo,称为白片。这种堪称黑片中的黄金。

这里不得不说,某些时候,某一批wafer会故意弄“坏",也就是要通过特别的读法或wafer die的再加工,才能正常激活这批wafer,那么原厂自然当做报废品来处理。

2. 黑片中的良品。

原厂对于nand flash的良品检测十分严格,稍有瑕疵,就被认为是不良品。其实黑片并不代表质量有问题,只能代表某个方面没有达到原厂标准。比如良品寿命有10万次,可能黑片中,某一些有瑕疵,原厂判断,寿命不行,只有5万次。这种就堪称黑片中的白银。

3. 黑片中的容量不足。

die的某些部分,由于各种原因导致损坏,其往往影响的只是容量大小,原厂对容量有个最低门限,比如2G1.7G

A. 1.6G-1.8G 就索性当2G

B. 900M 就将容量降到1G

4.黑片中的容量重拾。

以下情况,会让黑片重生,听起来会有点像将破布碎片给拼接缝合起来,看似一张完整的布,但其实可能曾经千疮百孔,但很脆弱,任何地方都可能轻易撕开。

A. 整个容量区,不规则的损坏,但是每个块都还有容量。

B. 整个容量区,极其有规律的损毁。

和常规nand flash读取原则不同,必须针对黑片的常规特性,用更为深入细腻的扫描方式和算法,将可能千疮百孔的容量区重新显示成看起来的整片。在使用时,避过这些标识出来的坏块。其中关键的技术之一就是ECC校验。对于B,往往要通过机台测试区分析这一批的规律,看看到底用什么样的改进算法读写能够起死回生。一旦解决这一批,那这先解决的主控就成为抢手货得宠。

此外,容量虚假升级,这个和黑片本身没有关系,将不足容量的,比如50M2G

所以,和人一样,林子大了,什么鸟都有,和山寨一样,都是人为因素导致,和上市IC公司一样,是人发生了变化。黑片中并非就等于质量不良、容量不足。因为毕竟是因为各种形式的损伤才导致容量缺失的(除了伪黑片,即白片),因此,在能够使用的情况下,自然就有了各种程度的稳定性的不确定性。

所以呀,客观点吧,人类就是愿意找借口推脱责任,物就只能受着,正视点吧,黑片无罪,人之罪!

《听左强讲-山寨那点事儿》2011.3.7
本文地址:https://www.eechina.com/thread-57986-1-1.html     【打印本页】

本站部分文章为转载或网友发布,目的在于传递和分享信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责;文章版权归原作者及原出处所有,如涉及作品内容、版权和其它问题,我们将根据著作权人的要求,第一时间更正或删除。
您需要登录后才可以发表评论 登录 | 立即注册

厂商推荐

关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
快速回复 返回顶部 返回列表