STM32的ADC精度说明
发布时间：2009-11-25 17:16
发布者：STM32
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以下所有的说明来源于《STM32F103xx数据手册》(2008年5月 第7版)。这里没有新的信息，只是把数据手册中的相应部分翻译了一下。 在阅读这个数据手册中各个参数时，首先必须搞清楚这些参数是如何得到的。根据手册中5.1.1节和5.1.2节的说明，有些参数是在一定条件下在生产线上测试得到，有些则是根据样本测试后推算得出。下面这段话是5.1.1节和5.1.2节的译文摘录： 5.1.1 最小和最大数值 除非特别说明，在生产线上通过对100%的产品在环境温度TA=25℃和TA=TAmax下执行的测试(TAmax与选定的温度范围匹配)，所有最小和最大值将在最差的环境温度、供电电压和时钟频率条件下得到保证。 在每个表格下方的注解中说明为通过推算、设计模拟和/或工艺特性得到的数据，不会在生产线上进行测试；在推算的基础上，最小和最大数值是通过样本测试后，取其平均值再加减三倍的标准分布(平均±3∑)得到。 5.1.2 典型数值 除非特别说明，典型数据是基于TA=25℃和VDD=3.3V（2V ≤ VDD ≤ 3.3V电压范围）。这些数据仅用于指导设计而未经测试。 典型的ADC精度数值是通过对一个标准的批次采样，在所有温度范围下测试得到，95%的产品误差小于等于给出的数值(平均±2∑)。 再看下面两张表，在25℃且VDDA = 3V～3.6V时，典型误差可达±1.3LSB，最大可达±2LSB；在所有温度范围内且VDDA=2.4V～3.6V时，典型误差可达±2LSB，最大可达±5LSB。 
关于ET、EO、EG、ED、EL的意义和关系见下图(此图是手册中的图29)： 
最初发表日期：2008-6-21 |
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