相变存储器:基本原理与测量技术

发布时间:2011-3-8 14:07    发布者:嵌入式公社
关键词: 测量技术 , 基本原理 , 相变存储器
相变存储器(可缩略表示为PCM、PRAM或PCRAM)是一种新兴的非易失性计算机存储器技术。它可能在将来代替闪存,因为它不仅比闪存速度快得多,更容易缩小到较小尺寸,而且复原性更好,能够实现一亿次以上的擦写次数。本文将为您介绍相变存储器的基本原理及其最新的测试技术。

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zhaokuiman 发表于 2011-4-7 06:09:04
分数没的真快啊
chery 发表于 2013-12-3 16:34:18
得到市场认可才能最终取得成功,只说是没有用的!
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