确保更精确的高电阻测量
发布时间:2011-3-8 14:05
发布者:
嵌入式公社
高电阻测量已成为多种测试应用的组成部分,包括印制电路板的表面电阻(SIR)测试、绝缘材料和半导体的电阻率测量、高欧姆值电阻的电压系数测试等。确保高电阻测量(即高于1GΩ [10P9P欧姆]的电阻)的精度需要使用大量的特殊技术和仪器,例如静电计、源测量单元(SMU)、或皮可安培计/电压源组合。静电计可以采用恒压或恒流的方法测量高电阻。
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