用于半导体可靠性的短脉冲强制性测试

发布时间:2011-3-8 11:53    发布者:嵌入式公社
关键词: 半导体 , 短脉冲 , 可靠性 , 强制性测试
开发IC让它能工作是一回事;而让它耐用就是另一回事了。随着新技术出现新的可靠性问题,后者变得越来越难。在封装之前,在晶圆上进行脉冲测试会有帮助。

下载: 用于半导体可靠性的短脉冲强制性测试.pdf (380.56 KB)

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