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如何使用万用表测量晶振的好坏

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发表于 2019-10-21 09:59:52 | 显示全部楼层 |阅读模式
  可以用万用表测量一下测量一下OSC_IN, OSC_OUT脚的电压,如果晶振起振,可以用直流档测到2-3V左右的电压。


  如果测出的直流电压不在此范围内,说明晶振没有起振。


  判断


  一个晶振电路的好坏,主要有两个衡量因素:


  1)振荡波形的幅度是否满足逻辑电平的要求


  2)振荡波形的频偏是否满足要求


  3)可靠性(包括环境温度,老化等各种情况的稳定性)


  采用示波器测试振荡波形的幅度以及频率。


  如果条件允许,对于》1MHz的高频的振荡波形,需要选用高带宽、高采样率、高存储深度的示波器进行测量,比如大几万的安捷伦示波器。并且采用专门的高频探头进行测量,否则示波器的探头可能会影响振荡条件。导致频率以及幅度与实际的不符。


  波形的频偏和幅度跟负载电容有很多的关系,需要根据晶振规格书要求选择合适的容值。并且用品牌厂家的电容,一般晶振的规格书中会推荐电容厂家,优先列表中选择合适的厂家。MicrochipPIC处理器还需要通过配置字设置激励强度。


  我们N年前的一款产品,1MHz-4MHz推荐使用中激励模式,》4MHz推荐高激励模式,我们在使用4MHz的晶振时,配置成中激励模式,导致少数几个产品在高温条件下时,其幅度只有3Vp-p,幅度不满足要求,单片机不工作,导致了批量返工。


  在全工作温度范围内(0-85度)一般石英晶体的频率精度可以达到100ppm左右,如果用这个信号做为RTC时钟的时钟源,一年累积下来,时间大概会有1个小时的误差。如果是异步时钟的通信,对时钟的频率精度也有一定的要求。比如UART通信,为了避免bit位之间的错位,时钟的频率精度在全工作温、湿度范围内至少可以通过单片机的PWM功能,将晶振产生的振荡信号通过单片机PLL功能倍频之后再分频,比如分频到1Hz的信号,通过IO口输出,通过普通的单片机测量周期,测量其频偏。可以通过另一个常温下工作的单片机自动测量周期,将待测单片机放入高低温箱中,自动长时间测量1Hz的输出信号,对测试数据进行统计分析,判断工作状况。

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