反射光强度的检测电路(CD4052B、CD4011B)
发布时间：2011-2-22 09:57
发布者：circuit_share
如图所示为反射光强度的检测电路。该电路由红外发光二极管、光电二极管、CMOS模拟开关、运算放大器等组成。 电路正常工作时，首先使红外发光二极管(LED)不发光，光电二极管接收到的外部干扰信号转换为电信号后加至负方向积分电路，设此段时间为T1；然后使LED发光，光电二极管接收到的光信号转换为电信号后加至正方向积分电路，设此段时间为T2。设T1=T2。则电路显示出来所保持的信号与外部干扰无关，仅与反射光强度有关。保持信号的这段时间称为保持时间，记为T3。相应积分器复位对应的时间为T4。在工作频率(50Hz或60Hz)下，为了有效地避免同步外部干扰，最好使T1=T2=N/f(N取整数，f为工作频率)，或者取T1=T2＜＜1/f。该电路结构简单，使用输出功率为5～10mW的红外发光二极管和光电二极管，可在距离10～100mm处检测反射光强度。电路中运算放大器的输入偏置电流应远小于光电流。电路增益取决于积分时间和积分电容Ci。本电路除了可以排除干扰检测反射光强度(反射光率)外，还可用于检测距离、倾斜和通过率，特别适用于检测各种光强。此外，本电路还可用于霍尔元件的磁性测量及其他测量。  |
网友评论