DPO/DSA70000D系列揭秘：定制的多芯片模块确保高速信号被采样前永远不会接触

发布时间：2014-2-24 13:47 发布者：eechina

随着技术进步以摩尔定律的速度*1快速发展，测试测量任务变得越来越困难。高性能应用，特别是要求芯片检定、串行数据一致性测试、光学调制分析、双倍数据速率（DDR）存储器和宽带RF检验的应用，需要以前不能实现的测试测量功能，包括把杰出的性能（带宽和采样率）和灵活性（端接电压和灵敏度）结合起来，而又不会给信号保真度带来负面影响。

下载：

201401505.pdf (272.61 KB)

本文地址：https://www.eechina.com/thread-126867-1-1.html 【打印本页】

本站部分文章为转载或网友发布，目的在于传递和分享信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责；文章版权归原作者及原出处所有，如涉及作品内容、版权和其它问题，我们将根据著作权人的要求，第一时间更正或删除。