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基于过采样技术提高SOC单片机片内A/D分辨率的研究与实现
发布时间:2013-9-11 13:49 发布者:
newlife
关键词:
过采样
,
SOC
,
分辨率
资料下载:
基于过采样技术提高SOC单片机片内A/D分辨率的研究与实现
更多过采样资料:
提高AD精度的过采样文章
本文地址:
https://www.eechina.com/thread-120728-1-1.html
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网友评论
rinllow6
发表于
2013-9-12 13:46:35
谢谢!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!
tony02778
发表于
2013-9-30 08:49:58
谢谢!!
dabuyang
发表于
2014-9-22 14:24:18
谢谢!!
lufeijeep
发表于
2020-1-31 23:21:55
谢谢
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