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Wafer Fab中的reticle静电损坏

已有 1508 次阅读2017-11-7 16:12 |个人分类:ESD控制| wafer, fab, reticle, ESD, PHOTO

Reticle在Wafer fab中的角色
  Photolithography(简称PHOTO,光刻),是半导体Wafer fab中最为核心技术的生产工序段。
  Reticle,也称为photo mask(光罩),则是PHOTO工序必不可缺少的关键工具。Reticle的自身完好性,对wafer线路光刻的精准性起着决定性的作用。

图1. Reticle在wafer PHOTO中的作用图示

图2. 用于wafer fab的Reticle
Reticle的静电敏感性
  由于wafer制程的精细程度持续提高,reticle对静电的敏感型也持续上升。相关业内的实践经验分析与相关研究表明,用于180nm制程的reticle已经表现出不可忽视的静电敏感特性。

图3.Reticle chrome线路遭受多次ESD的损坏症状(光学显微镜)
Reticle静电损坏对wafer fab的价值
  Reticle受到静电的影响,尤其是发生chrome pattern CD(Critical Dimension,关键尺寸)的偏移(较强的ESD),可能直接导致PHOTO后的wafer报废。

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