F-200A型半导体器件通用测试机

一、 概述

   F-200A半导体器件通用测试机是专为测量包括二极管、MOS管、IGBT、毫欧电阻等电子器件正向压降而设计，正向电流分为0.01-0.1A、0.1~1A、1~10A、10~200A四个档位，测量范围更广。

0.01~0.1A：小电流硅堆、（高压二极管：定制60V）、0.1A内的小电流MOS管和二极管、LED、10~100Ω电阻等测试；

0.1~10A：中小功率二极管、MOS管、0.1~1Ω电阻；

10~200A：大功率二极管、MOS管、IGBT管、0~0.1Ω电阻、开关触点压降稳定性测试

二、技术参数

1.    正向脉冲电流调节范围：0.01A~200A，四个档位，每个档位步进为档位满量程的0.01%（10-200A为10mA步进）

2.    脉冲宽度：300us-600us 固定值

3.    开路输出电压:≥65V

4.    正向压降测量范围：10mA-10A：60V；10A-200A：20V

5.    正向压降测量电流电压的分辨率：

6.    AC220V±10％，50Hz

7.    消耗功率：≤100W

8.    工作温度：25℃±10℃

9.    串口RS485通信接口

10. 配电脑软件,输出特性曲线、导出图像和excel数据点

11. 测试仪器可脱机独立运行

12. 选配栅极测量选件，可测量栅极端口电容、栅极正反向漏电、测量IG/VGE、IC(ID)/VGE;选配极性自动切换选件，可自动切换电压电流正负极性；选配耐压测试盒选件，可测试最高5kV的器件耐压。有关选件具体信息，请咨询销售经理。

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