提到“老化”我们第一时间可能会想到生锈的钢材，腐朽的树木，那么你知道吗我们日常生活使用的电子产品中的电子元器件也会老化，这些电子元器件一部分是因为工艺制造过程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引线焊接不良、沟道漏电、硅片裂纹等问题而老化，另一部分则是在我们长使用时间内对元器件连续的使用过程中电热应力加速元器件了内部的各种物理、化学反应过程从而造成电子元器件老化损坏。

      无论是哪一种情况，电子元器件的老化问题存在于我们生活中的方方面面，因此针对电子元器件的老化问题，它的出厂测试必不可少。

      在对电子元器件的老化测试时我们可以通过电子元器件自动测试系统在加速元器件的寿命退化后，对代表其性能退化的电参量进行测试，从而获取测试数据，保证获取数据的实时性和可靠性，同时也可以对元器件老化后的功能和交参数进行测试，比如对二极管极性的自动识别极性、最大整流电流、正向压降项目测试等。

      通过这些项目的测试我们一方面可以促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露，从而达到剔除早期失效产品的目的，另一方面可以评定电子元器件是否适合在特点环境下长期使用，同时可以判断出电子元器件的使用寿命和整体性能。

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