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X射线双晶衍射摇摆曲线

已有 134 次阅读2015-4-27 15:00 | 关键词: 绘制衍射图谱, 物相定性分析, 物相定量分析, 极图测定, 宏观应力测试

国家有色金属及电子材料分析测试中心,针对单晶基片及其完美性分析或点阵失配外延层薄膜(晶体完整性和异质外延结构),通过高分辨X射线衍射测量(X射线双晶衍射摇摆曲线)提供微结构、微成分和微缺陷等方面的大量信息。

国家有色金属及电子材料分析测试中心,是中国权威的第三方金属检测机构,实验室通过ISO 17025国家实验室认可(CNAS),中国计量认证(CMA),国际航空材料认证(NADCAP),为客户提供科学的产品检测、评价方案,满足进出口及工程检测等各种需求。 

 

关键词:绘制衍射图谱,物相定性分析,物相定量分析,极图测定,宏观应力测试,宏观应力检测,宏观应力分析,微观应力分析,微观应力检测,微观应力测试,织构分析,晶粒度测试,点阵常数测定,点阵常数测试,点阵常数检测,晶体取向分析,残余应力测试,残余应力分析,残余应力检测。

 


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